在測量UVLED的輻照能量時(shí)，首先必須注意測量設備的匹配性與校準。用于測量的紫外輻照計必須能夠準確響應UVLED特有的窄波段紫外線(xiàn)，并定期進(jìn)行專(zhuān)業(yè)校準以確保數據的準確性。選擇不匹配或未校準的儀器會(huì )導致對UVLED輻照能量的誤判，直接影響工藝效果。
測量時(shí)的距離和位置至關(guān)重要。UVLED的光斑分布可能存在不均勻性，因此需要確保傳感器探頭放置在能代表固化材料實(shí)際接收能量的典型位置，并嚴格控制探頭與UVLED光源之間的測量距離。不規范的測量位置會(huì )得到不具代表性的輻照能量讀數。
必須考慮UVLED自身的工作狀態(tài)與環(huán)境因素。UVLED的輻照能量會(huì )隨著(zhù)工作溫度、使用時(shí)間以及驅動(dòng)電流的變化而波動(dòng)，應在光源穩定工作后盡快測量。同時(shí)，環(huán)境中的灰塵或異物會(huì )污染UVLED燈珠表面，削弱其輸出能量，保持清潔是獲得準確測量結果的前提。
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